Détails
Testeur d´ingénierie CF-SD-MMC
L´appareil M7200 est un testeur d´appareils Flash tels IDE ATA SSD, cartes Compact Flash, cartes SD et cartes Linear Flash. Grâce à des modules amovibles il est possible de tester différents types de mémoires flash. Chaque appareil M7200 peut être utilisé avec 2 modules et peut de ce fait gérer 8 à 16 appareils.
Fonctions de test:
- Tests rapides et en parallèle de scripts élaborés grâce à une interface graphique simple d´utilisation
- Les scrpts test peuvent être enregistrés soit sur le disque dur local soit sur un serveur internet
- DC parametric leakage testing
- Mesures du Coefficient de corrélation intra-classe - IRDP
- VCC Margining
- Test vitesse lecture/copie
- Test de commande incluant le formatage bas-niveau du contrôleur
Pour la production d´appareils flash un formatage bas-niveau des appareils flash et éventuellement une configuration des hardware sont requis. Grâce à sa structure modulaire, l´appareil M7200 passe rapidement en différents formatages bas-niveau et s´adapte ainsi à un grand nombre de cartes flash comme les cartes CF et SD, IDE Single Chip PATA, Linear Flash u.a.
L´appareil M7200 fonctionne avec un système d´exploitation Linux avec écran LCD 17" et souris. Par ailleurs, il est équipé d´une interface éthernet 10/100.
Pour compléter votre système M7200, le testeur M7100 peut accueillir jusqu´à 8 modules et peut de ce fait gérer 32 à 64 ports (suivant le module utilisé). Les 2 appareils M7200 et M7100 sont équipés du même logicel et du même hardware.
Ainsi il est possible d´échanger des scripts entre les 2 appareils sans avoir besoin de les modifier au préalable.
Caractéristiques
Caractéristiques | SD | MMC | CF |
Système d´exploitation Linux | x | x | x |
Parametric Tests - Leakage To Ground, Leakage To Vcc, Cross Leakage, Open Pin | x | x | x |
Tests fonctionnels - lecture/écriture/vérification | x | x | x |
Mesures Standby Icc | x | x | x |
Tests de rapidité lecture/écriture | x | x | x |
Initialisation bas-niveau du contrôleur/téléchargement du firmware(1) | x | x | x |
L´unité de base est compatible avec 4-8 ports | x | ||
L´unité de base est compatible avec 8-16 ports | x | x | |
Disque système remplacable | x | x | x |
Alimentation indépendante des modules | x | x | x |
Test en parallèle (possible la plupart du temps) | x | x | x |
L´interface graphique permet le choix, la production et l´édition de fonctions JOB | x | x | x |
Terminal informatique pour l´entrée des commandes | x | x | x |
Compatibilité de scripts TCL | x | x | x |
Mise en oeuvre de commandes fabricant sur-mesure | x | x | x |
Test Burn-In (test en boucle) | x | x | x |
Duplication d´une image binaire | x | x | x |
Module de test changeable | x | x | x |
MOD 8 | SD | MMC | CF |
Compatible avec tous les modes CF - Memory Map, I/O Map,True IDE, DMA et UDMA | x | ||
Compatibles avec CF de Type I et de Type II | x | ||
Compatibilité modules IDE Flash | x | ||
Comaptible avec lecteur IDE | x | ||
Vcc Margin Testing (+/- 10%) sur rails 3.3V et 5.0V | x | ||
Vérification des informations IDDrive | x | ||
Compatibilité appareils IDE/ATA sur-mesure grâce à un adaptateur | x | ||
Compatibilité adressage LBA48 | x | ||
MOD4 | SD | MMC | CF |
Compatibilité SD2.0 (SDHC) | x | ||
Compatibilité MMC 4.2 | x | ||
Fréquence d´horloge SD/MMC configurable | x | x | |
Vcc Margin Testing (+/- 10%) sur rail 3.3V | x | x |
Logiciel
Evaluations
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